转让Agilent4155A参数分析仪技术支持

I:1 fA 至 100 mA(20 fA 偏移精度) V:1 微 V 至 100 V 采用直流或脉冲模式的全自动 IV 扫描测量,可扩展至 6 个 SMU 同步压力/测量功能 两个高压脉冲发生器单元 (+/- 40 V) 时域测量:60 微秒 - 可变间隔高达 10,001 点 易于使用的旋钮扫描,类似于曲线跟踪器 自动分析功能 内置安捷伦/惠普仪器 BASIC 触发 I/Q 能力 Agilent 4155A 半导体参数分析仪提供高分辨率/准确度和宽范围;I:1 fA 至 100 mA(20 fA 偏移精度),V:1 微 V 至 100 V,采用直流或脉冲模式的全自动 IV 扫描测量,可扩展至 6 个 SMU,同步应力/测量功能,两个高压脉冲发生器单元 (+/- 40 V),时域测量:60 微秒 - 可变间隔,最多 10,001 个点,易于使用:类似于曲线跟踪器的旋钮扫描,自动分析功能和自动化:内置 HP仪器 BASIC,触发 I/Q 功能。