回收 Keysight N7788C 光器件分析仪

回收 Keysight N7788C 光器件分析仪 欧阳R:135//3722//9325 Keysight N7788C 光器件分析仪 主要特性与技术指标 单次扫描中的通牒高精度。无需进行多次扫描并计算平均值 对元器件的光路径长度没有限制 1240 nm 至 1650 nm 工作波长范围 1 MHz 大采样率 0 ps 至 1000 ps DGD 测量范围 0 ps 至 300 ps PMD 测量范围 1.5° SOP 测量不确定度 ±2% DOP 测量不确定度 描述 N7788C 光器件分析仪可在一台仪器中同时提供偏振控制和分析功能,因而能够在实验室中灵活使用。尤其是,N7788C 能够与可调谐激光源结合使用,测量光元器件如何改变信号的 SOP。该测量以广义标准琼斯矩阵本征分析法(JME)为基础,使用独特的单次扫描偏振相关方法来确定参数偏振模色散(PMD)或差分群时延(DGD)以及偏振相关损耗(PDL)。 N7788C 与可调谐激光源和新的 N7700 软件引擎结合使用,能够对这些偏振相关损耗和色散进行光谱测量。